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低冲击分离螺母的机构分离可靠性分析方法

摘要

本发明公开了一种低冲击分离螺母机构分离可靠性分析方法,该方法包括:对低冲击分离螺母机构分离的主要失效模模式进行分析,建立所述失效模式的极限状态函数,并确定影响分离的随机变量及其分布类型;根据主要失效模式的极限状态函数构建初始Kriging模型;计算扩展失效概率及相应估计值的变异系数;计算修正因子及估计值的变异系数;根据所述扩展失效概率及修正因子计算失效概率,得到多失效模式下低冲击分离螺母机构分离的可靠度。利用本发明,可以准确地确定分离螺母机构分离的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN113673051B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.08.30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202110919732.0

  • 发明设计人 牛磊;严楠;董海平;叶耀坤;马兵;

    申请日2021.08.11

  • 分类号G06F30/17(2020.01);G06F30/27(2020.01);G06K9/62(2022.01);G06F119/02(2020.01);

  • 代理机构北京智桥联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11560;

  • 代理人金光恩

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号院

  • 入库时间 2022-09-26 23:16:47

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