集成电路的汉克尔变换滤波器非均匀采样方法及装置

摘要

本发明属于集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路的汉克尔变换滤波器非均匀采样方法及装置，本方法包括：基于均匀采样获得用于计算集成电路电磁场的格林函数‑汉克尔变换的滤波器系数，计算每个采样点的舍弃对贝塞尔积分‑汉克尔变换对中的整个贝塞尔积分计算的误差影响，基于预设的精度控制范围决定采样点是否保留，并对保留的采样点进行位置更新，形成非均匀采样点，基于保留的非均匀采样点，计算相应的贝塞尔积分；本发明通过考量每个采样点的舍弃对积分结果的影响，舍弃采样点过后，并对的采样点进行位置更新，在不改变总的采样间隔的基础上，满足预设的精度控制范围的条件下大幅减少贝塞尔积分的计算量，提高集成电路电磁场计算的速度。