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一种三基准体系下直径要素-宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法

摘要

本发明提出一种三基准体系下直径要素‑宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法,包括:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;全部基准要素由一个平面要素、一个直径要素和一个宽度要素组成;S2,根据D_DFS构件建立设计坐标系,根据M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用变长曲柄平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带。本发明所述方法不仅局限于单一基准遵循相关要求下转移公差的计算,具有较高的理论意义和使用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN109086252B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201810649310.4

  • 发明设计人 吴玉光;王伟;

    申请日2018-06-22

  • 分类号G06F17/18;

  • 代理机构浙江千克知识产权代理有限公司;

  • 代理人周希良

  • 地址 310018 浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道2号大街1158号

  • 入库时间 2022-08-23 13:45:42

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