首页> 中国专利> 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质

飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质

摘要

本申请属于PCB测试技术领域,涉及飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质。该飞针测试方法包括:获取第一飞针测试文件的测试信息;根据所述第一飞针测试文件的测试信息显示PCB的零件面图像和焊锡面图像;获取第二飞针测试文件的测试信息;根据所述第二飞针测试文件的测试信息显示PCB的上模面图像和下模面图像;所述上模面图像对应于所述零件面图像,所述下模面图像对应于所述焊锡面图像;在所述焊锡面图像与所述下模面图像的方向不一致时,调整所述焊锡面图像或所述下模面图像,使得所述焊锡面图像与所述下模面图像的方向一致。本申请能够灵活使用各种格式的测试文件。

著录项

  • 公开/公告号CN111060800B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市大族数控科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201811204343.4

  • 申请日2018-10-16

  • 分类号G01R31/28(20060101);G01R1/073(20060101);

  • 代理机构44385 深圳市世联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人汪琳琳

  • 地址 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房

  • 入库时间 2022-08-23 13:16:09

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号