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基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法

摘要

本公开提供一种基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,包括:步骤S1:仿真分析标准透镜聚焦效果;步骤S2:采用射线追迹法优化透镜曲线;以及步骤S3:采用二维矩量法仿真分析验证标准透镜的聚焦效果;所述步骤S1包括如下子步骤:步骤S11:高斯波束的二维化处理;以及步骤S12:矩量法仿真分析介质透镜。所述基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法能够有效提高透镜仿真、优化设计的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN110929375B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201910990550.5

  • 发明设计人 李超;耿贺彬;郑深;方广有;

    申请日2019-10-17

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F17/15(20060101);G06F17/11(20060101);G06F111/10(20200101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴梦圆

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 12:23:50

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