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利用自然氧化层形成具有沟道结构的三维存储器件的方法

摘要

公开了具有带有自然氧化层的沟道结构的3D存储器件及其形成方法的实施例。在示例中,公开了一种用于形成3D存储器件的方法。在衬底上形成电介质堆叠层。衬底上的电介质堆叠层包括交错的第一电介质层和第二电介质层。形成垂直延伸穿过电介质堆叠层的开口。沿着开口的侧壁形成自然氧化层。自然氧化层包括至少一些第一电介质层的自然氧化物。将沉积氧化层、存储层、隧穿层和半导体沟道按此顺序相继形成在自然氧化层之上并沿着所述开口的侧壁。通过用导体层替换电介质堆叠层中的第一电介质层,形成包括交错的导体层和第二电介质层的存储堆叠层。

著录项

  • 公开/公告号CN109496359B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;

    申请/专利号CN201880001999.8

  • 发明设计人 王启光;靳磊;刘红涛;

    申请日2018-10-08

  • 分类号H01L27/11578(20170101);

  • 代理机构11376 北京永新同创知识产权代理有限公司;

  • 代理人钟胜光

  • 地址 430074 湖北省武汉市东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-28

    授权

    授权

  • 2019-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/11578 申请日:20181008

    实质审查的生效

  • 2019-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/11578 申请日:20181008

    实质审查的生效

  • 2019-03-19

    公开

    公开

  • 2019-03-19

    公开

    公开

  • 2019-03-19

    公开

    公开

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