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不同缩放比率的集成芯片设计方法及EDA工具

摘要

本发明提供了FEOL/MOL/BEOL中的不同缩放比率。本发明涉及一种通过以不同缩放比率对初始IC设计的FEOL和BEOL进行缩放来生成缩放集成芯片设计的方法,及其相关设备。在一些实施例中,通过形成集成芯片的图示的初始集成芯片(IC)设计来实施方法。初始IC设计具有前道工序(FEOL)部分、后道工序(BEOL)部分和设置在FEOL部分和BEOL部分之间的中间工序(MOL)部分。通过以不同缩放比率对初始集成芯片设计的FEOL部分和BEOL部分进行缩放(即,缩小),并且通过以不同缩放比率对MOL部分内的不同设计层进行缩放来形成缩放集成芯片设计,以避免FEOL部分和BEOL部分之间的未对准误差。

著录项

  • 公开/公告号CN104657533B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201410036107.1

  • 发明设计人 李亮嶢;蔡宗杰;吴俊毅;李俊毅;

    申请日2014-01-24

  • 分类号

  • 代理机构北京德恒律治知识产权代理有限公司;

  • 代理人章社杲

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 10:06:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-26

    授权

    授权

  • 2015-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20140124

    实质审查的生效

  • 2015-05-27

    公开

    公开

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