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一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统

摘要

本实用新型适用于太赫兹测量技术领域,尤其涉及一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统。本实用新型所提供的自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪包括脉冲展宽器、宽带半波片、透镜、太赫兹电光晶体、双折射晶体、线偏振器以及光谱仪。上述光学元件通过巧妙的自参考干涉结构设计,在基于电光采样及光谱干涉原理的基础上,采用啁啾脉冲为探针实现了对高强度太赫兹脉冲时域光谱的单次测量。

著录项

  • 公开/公告号CN206959990U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201720605936.6

  • 申请日2017-05-26

  • 分类号

  • 代理机构深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人王利彬

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2022-08-22 03:52:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-25

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01J3/45 授权公告日:20180202 放弃生效日:20190125 申请日:20170526

    避免重复授权放弃专利权

  • 2018-02-02

    授权

    授权

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