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一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪

摘要

本实用新型提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极;物体发出的X射线通过入射狭缝,经透射光栅色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经过条纹相机前的光阴极狭缝,挡除多余光谱,即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本实用新型的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上,可获得更高的谱分辨率,并且适用于时间分辨光谱的测量,对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-12

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01J3/28 授权公告日:20160120 放弃生效日:20170412 申请日:20150918

    避免重复授权放弃专利权

  • 2016-01-20

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