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一种用于全极化雷达散射截面测量的低散射校准支架

摘要

本实用新型公开一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架,包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂,所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端;所述安装平台上设有安装座,所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内,且二面角支撑臂与所述安装平台平行。采用上述结构后降低了支架对二面角散射场测量的影响,提高了雷达散射截面测量系统校准的准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN204269819U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201420827863.1

  • 发明设计人 李贵兰;马蔚宇;马永光;黄建领;

    申请日2014-12-23

  • 分类号

  • 代理机构北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人张文祎

  • 地址 100854 北京市海淀区142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-22 00:33:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S7/40 授权公告日:20150415 终止日期:20151223 申请日:20141223

    专利权的终止

  • 2015-04-15

    授权

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