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基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声

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摘要

用于基于光子延迟测量RF、微波或毫米波信号中的相位噪声的技术和设备。

公开/公告号CN102667506B

专利类型发明专利
公开/公告日2015-03-11

原文格式PDF
申请/专利权人光电波公司;
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申请/专利号CN201080049101.8
发明设计人丹尼·埃利亚胡;鲁特·马利基;大卫·塞德尔;
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申请日2010-09-23
分类号G01R29/26(20060101);G01R29/02(20060101);G01R25/00(20060101);G01R29/08(20060101);
代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人宋合成
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 09:23:44

1. 基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声 [P] . 中国专利： CN104764941B . 2018.01.09
2. 基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声 [P] . 中国专利： CN104764941A . 2015-07-08
3. Measuring phase noise in radio frequency, microwave or millimeter signals based on photonic delay [P] . 美国专利： US9234937B2 . 2016-01-12

机译：根据光子延迟测量射频，微波或毫米波信号中的相位噪声
4. Measurement of phase noise in radio frequency, microwave or millimeter wave signals based on optical delay [P] . 日本专利： JP5619902B2 . 2014-11-05

机译：根据光学延迟测量射频，微波或毫米波信号中的相位噪声
5. Measurement of phase noise in radio frequency, microwave or millimeter wave signals based on optical delay [P] . 日本专利： JP2013506139A . 2013-02-21

机译：根据光学延迟测量射频，微波或毫米波信号中的相位噪声