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一种多路小尺寸小电阻通电老化与电阻监测系统及方法

摘要

本发明公开了一种多路小尺寸小电阻通电老化与电阻监测系统及方法,系统包括源表通电老化模块、数据采集处理模块、四探针法探针台和Labview测试程序,源表通电老化模块将多路小电阻串联同时持续通电,同时给予一定的脉冲电流用于提高电阻测试的准确性,数据采集处理模块用于切换采集不同小电阻的电压数据,并进行处理和显示,从而计算获取实时电阻数据,探针台采用四探针法设计,用于定位芯片上的小尺寸测试点并且消除接触电阻。本发明可以精确测试芯片上微欧、毫欧级别的小尺寸小电阻,并且可以多路同时测试,可以实时监测通电老化过程中的电阻变化,提高了测试精度和效率,节约了人工监测时间,解决了小电阻测不准的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN115561527A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 之江实验室;

    申请/专利号CN202211438848.3

  • 申请日2022-11-17

  • 分类号G01R27/14;G01R31/28;

  • 代理机构北京志霖恒远知识产权代理有限公司;

  • 代理人戴莉

  • 地址 311121 浙江省杭州市余杭区之江实验室南湖总部

  • 入库时间 2023-06-19 18:13:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-03

    公开

    发明专利申请公布

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