首页> 中国专利> 多分类器融合的自适应脑区脑电伪迹检测方法

多分类器融合的自适应脑区脑电伪迹检测方法

摘要

本发明公开了一种多分类器融合的自适应脑区脑电伪迹检测方法。本发明步骤:1、对多通道的脑电EEG信号进行滤波和多类伪迹类别划分;2、针对得到的每类伪迹信号对应的脑部区域分析和通道关联性分析,得到每类伪迹的区域信息和通道信息;3、对每类伪迹的通道信息进行特征提取;4、针对区域信息和提取的特征,使用ReliefF算法和mRMR算法进行两阶段的特征选择,建立特征分组;5、使用机器学习算法结合选取的特征进行分类模型的训练;6、针对步骤5所训练得到的多个分类器进行系统搭建。本发明克服了临床上人工定位伪迹的繁琐,提高了异常信号的快速定位,解决了现有伪迹识别技术的单调性,同时可以实现对多通道脑电EEG数据进行实时的伪迹检测。

著录项

  • 公开/公告号CN115486858A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN202211162255.9

  • 申请日2022-09-23

  • 分类号A61B5/369;A61B5/372;A61B5/374;A61B5/388;A61B5/00;G06K9/00;G06N20/00;

  • 代理机构杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人朱月芬

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2023-06-19 18:01:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-20

    公开

    发明专利申请公布

获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号