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基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法

摘要

本发明提出了一种基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法,用于提高SAR图像分割精度。实现步骤为:采用SLIC超像素算法对SAR图像进行分割;提取每个超像素的灰度特征和纹理特征;获取每两个相邻超像素之间的相似性系数;确定待合并的超像素对;计算每个待合并超像素对的合并指数;获取SAR图像多特征区域合并结果;判断超像素的个数与阈值的大小;输出新合并的超像素的SAR图像。本发明首先使用SLIC超像素算法对SAR图像进行过分割,然后借助不同特征将相邻超像素融合,提高了SAR图像的分割精度。

著录项

  • 公开/公告号CN115423838A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202211072177.3

  • 申请日2022-09-02

  • 分类号G06T7/187;G06V10/762;G06V10/54;G06V10/56;G06V10/74;G06V20/13;

  • 代理机构陕西电子工业专利中心;

  • 代理人陈宏社;王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 17:50:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-02

    公开

    发明专利申请公布

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