电路板可靠性预测方法以及电路板应力加速寿命实验方法

摘要

本发明公开了一种电路板可靠性预测方法以及电路板应力加速寿命实验方法，采集电路板图像；利用元器件模型对电路板图像中的电子元器件进行检测，若检测出所有电子元器件的种类，则保存电子元器件的种类和数目，若检测出未知电子元器件，则补充该未知电子元器件的图片到元器件模型的样本集中，同时按照数据库列表格式补充新的元器件的参数，重新训练元器件模型，得到新的元器件模型，直到检测出所有电子元器件的种类；根据保存的电子元器件的种类和数目以及电子元器件的通用失效率，计算电路板的可靠性参数。优点：通过元器件模型自动获取电路板上影响可靠性指标的元器件种类和数量，能够快速直接完成可靠性预测预测评估，实现可靠性试验参数推荐。