首页> 中国专利> 一种激光二次选择性电离同位素质谱分析方法

一种激光二次选择性电离同位素质谱分析方法

摘要

本发明公开了一种激光二次选择性电离同位素质谱分析方法,该方法包括仪器初始化、LIBS初步元素分析、SLRI激光波长选择、SLRI二次电离、离子传输初聚焦、W形TOF质量分析等六个步骤。本发明的有益效果是,LIBS一次电离时,可实现元素的组成和含量初步分析;基于第一次LIBS得出的元素同位素原子能级先验知识,在二次共振电离时,可优先选择共振波长。四路SLRI的光路配置,实现紫外至红外的可调谐激光输出,离子聚焦镜和反射镜的应用可实现时空同步聚焦高分辨质量传感。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-04

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号