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一种亚米级光学球面曲率半径的测试方法及装置

摘要

本发明为一种亚米级光学球面曲率半径的测试方法及装置,其克服了现有技术中存在的调整复杂,需要空间大,对环境要求高,不能同时测试多个元件的问题。光源照明具有一定特征尺寸的图案形成目标物,经待测光学球面一次反射成像,测试装置中的光学镜头二次成像,最终成像在相机光敏面上,本发明通过对相机采集到的图像处理分析,获得最终像的特征尺寸,将待测光学球面与测试系统中的光学镜头看作组合成像系统,计算出物、像特征尺寸总体比值,依据光学球面及光学镜头成像原理,计算出待测光学球面的曲率半径。测试装置包括特征目标物形成装置、光学镜头、相机、支架和上位机,特征目标形状装置与相机位于待测光学球面的同一侧。

著录项

  • 公开/公告号CN115265411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN202210959644.8

  • 申请日2022-08-11

  • 分类号G01B11/255;

  • 代理机构西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2023-06-19 17:22:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    公开

    发明专利申请公布

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