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一种稳定同位素丰度的质谱测定方法

摘要

本发明公开了一种稳定同位素丰度的质谱测定方法,包括以下步骤:步骤1,使用质谱仪对稳定同位素进行磁场扫描,磁场扫描后,选定信号合适的法拉第杯得到的图谱,以该图谱中同位素信号明显的价态作为待测离子;步骤2,由步骤1得到的同位素离子信号初步粗略确定丰度占比,然后,对各同位素离子选择法拉第杯;步骤3,确定每个同位素离子在对应法拉第杯的磁场位置;步骤4,分别在对应的磁场位置下进行每一个同位素离子信号的测量,得到每一个同位素离子信号值;步骤5,利用步骤4得到的每一个同位素离子信号值进行丰度计算,得到每一个稳定同位素的丰度。本发明的方法操作简单,效率高,测量准确,应用范围广。

著录项

  • 公开/公告号CN115096978A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 核工业理化工程研究院;

    申请/专利号CN202210583252.6

  • 申请日2022-05-26

  • 分类号G01N27/62;

  • 代理机构天津创智睿诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人李薇

  • 地址 300000 天津市河东区津塘路168号

  • 入库时间 2023-06-19 16:54:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-23

    公开

    发明专利申请公布

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