一种基于FPGA的双线性插值重采样实现方法及装置

摘要

本申请提供一种基于FPGA的双线性插值重采样实现方法及装置。其中，方法包括：计算序列发生器基于双线性插值法对输入图像进行处理得到按区块划分的输出图像；对于输出图像的每个区块，计算序列发生器生成参考点头地址和区块中每个输出点对应的写地址、参考系数查找表的索引；参考点加载模块根据参考点头地址从输入图像中获取参考点；对于区块中的每个输出点，多个参考系数加载模块分别根据参考系数查找表的索引从参考系数查找表中获取一个参考点的参考系数；乘加模块根据参考点和参考系数计算得到区块中的每个输出点，并将输出点存入写地址中。相较于现有技术，本申请能够加速双线性插值重采样的过程。