首页> 中国专利> 超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法

摘要

提供一种超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法,其中超表面器件包括:透射型超表面,所述透射型超表面被划分成多个超表面单元;其中所述多个超表面单元中的每个超表面单元对入射光光谱透过率的调制是唯一的,所述多个超表面单元的透射谱两两正交。根据本发明技术方案,超表面对光谱编码精准,且超表面加工方式为半导体兼容工艺,更适宜大批量量产。

著录项

  • 公开/公告号CN114543993A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳迈塔兰斯科技有限公司;

    申请/专利号CN202210170143.1

  • 发明设计人 郝成龙;谭凤泽;朱瑞;朱健;

    申请日2022-02-23

  • 分类号G01J3/28;G01J3/02;G02B1/00;

  • 代理机构深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张金香

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼

  • 入库时间 2023-06-19 15:27:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号