触摸屏像素点电容值均值的获取方法、装置以及检测方法

摘要

本发明公开了一种触摸屏像素点电容值均值的获取方法、装置以及检测方法，该方法包括以下步骤：S10、任意获取N片触摸屏每一个像素点电容值，其中每一片触摸屏具有M个像素点；S20、对N片触摸屏上相同位置的一组像素点，按照电容值从小到大进行排序，构成像素点队列；S30、循环多轮地剔除像素点队列中离均差超出电容值波动范围的首位像素点或末位像素点，并且在每轮剔除时判断二者是否要成对剔除；S40、将剔除后剩余像素点的电容值的算数平均值作为该位置像素点的电容值均值，并返回至触摸屏检测设备，以其作为评判触摸屏像素点是否合格的标准。本发明解决了现有技术中因像素点电容值波动差异较大导致测试时误判、错判、良率不高的问题。