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用于线性测量的光学标尺或磁性标尺

摘要

本发明提供一种用于线性测量的光学标尺或磁性标尺。光学标尺或磁性标尺(实际上是用于大长度线性测量的模块化标尺)为如下类型的光学标尺或磁性标尺:光学标尺或磁性标尺包括:尺架(P)、单个钢带(2)以及读取滑块(R),尺架(P)由一个或更多个模块组成,一个或更多个模块在工具机上相互组装和对准,单个钢带(2)承载标尺光栅并容纳在设置在尺架(P)内的连续凹槽中,读取滑块(R)在尺架(P)内滑动以执行标尺光栅或磁性带的读取。钢带(2)通过钢带(2)的承载标尺光栅的表面并通过钢带(2)的其整个长度上没有机械约束的引导边缘形成读取滑块(R)的唯一滑动引导件。

著录项

  • 公开/公告号CN114459358A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 绩伟测量;

    申请/专利号CN202111304218.2

  • 发明设计人 M·格拉西;P·格拉;M·维根蒂尼;

    申请日2021-11-05

  • 分类号G01B11/02;G01B7/02;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 意大利米兰

  • 入库时间 2023-06-19 15:15:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-10

    公开

    发明专利申请公布

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