首页> 中国专利> 特征尺寸的偏移误差计算方法及装置、存储介质、终端

特征尺寸的偏移误差计算方法及装置、存储介质、终端

摘要

一种特征尺寸的偏移误差计算方法及装置、存储介质、方法包括:获取待测量版图中的待测量位置点,并基于待测量位置点的位置确定多个起始位置点;计算每一个起始位置点的特征尺寸,并基于特征尺寸的值确定第一起始点和第二起始点;以第一起始点和第一迭代准则进行迭代,获得第一目标位置点;以第二起始点和第二迭代准则进行迭代,获得第二目标位置点;基于第一目标位置点的特征尺寸和第二目标位置点的特征尺寸计算待测量版图的偏移误差。通过本发明技术方案能够提升偏移误差计算的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN114440775A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 全芯智造技术有限公司;

    申请/专利号CN202111643956.X

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2021-12-29

  • 分类号G01B11/03;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期J2C栋13楼

  • 入库时间 2023-06-19 15:11:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-06

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号