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预测难以修复的设计规则检查违规的方法与系统

摘要

一种预测难以修复的设计规则检查违规的方法与系统,预测难以修复的设计规则检查违规的方法包括:通过多个电子电路置放布局训练一机器学习模型;由该机器学习模型预测一新电子电路置放布局的设计规则检查(DRC)违规的修复率;基于该新电子电路置放布局的这些DRC违规的这些修复率识别这些DRC违规当中的难以修复(HTF)的DRC违规;及由一工程改变命令(ECO)工具修复这些DRC违规。

著录项

  • 公开/公告号CN114444434A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN202110340895.3

  • 发明设计人 许静;林士尧;庄易霖;

    申请日2021-03-30

  • 分类号G06F30/398;G06N20/00;G06F115/12;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号

  • 入库时间 2023-06-19 15:11:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-06

    公开

    发明专利申请公布

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