坏块表继承方法及其存储装置

摘要

本申请公开了一种坏块表继承方法及其存储装置。坏块表继承方法应用于存储装置的主控芯片且包括以下步骤：对存储装置的存储模块进行扫描检测，以生成原始坏块表，并存储在存储模块的第一存储位置，其中，原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息；以及对存储模块进行低级格式化操作时，读取原始坏块表，并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序，以生成系统坏块表，并存储在存储模块的第二存储位置，其中，系统坏块表记录多平面模式对应的坏块信息。因此，可保证存储装置损坏不认盘或更新固件时仍可获取原始坏块表，且存储装置更换操作的平面模式时，也可完整继承原始坏块表。