一种基于参数达标率与CPK四象限的过程稳定性分析方法

摘要

本发明属于工业制造技术领域，具体公开一种基于参数达标率与CPK四象限的过程稳定性分析方法，包括：计算某工序各类参数的参数达标率和参数过程能力指数CPK，以参数达标率为X轴，参数过程能力指数CPK为Y轴，构建四象限分布；基于数据在四象限分布中的落点情况分析生产过程稳定性。本申请通过构建由参数工艺达标率和参数过程能力指数CPK组成的四象限，解决了只关注参数达标率而造成的忽视参数波动，生产过程保持稳定能力较弱的问题，也解决了只关注参数过程能力指数CPK忽视参数达标率而造成的生产过程在不符合产品设计标准的区间平稳的问题。