一种采用本征缺陷多孔碳材料检测多菌灵的方法

摘要

本发明公开了一种采用本征缺陷多孔碳材料检测多菌灵的方法：(1)本征缺陷多孔碳材料的制备；(2)修饰电极的制备；(3)标准溶液的配制；(4)标准曲线的绘制；在实际检测多菌灵含量的过程中，将多菌灵的标准溶液替换成待测样，在氧化峰出峰位置测得氧化峰电流值，将氧化峰电流值带入所得线性方程中，即可计算出待测样中多菌灵的含量。本发明中制得的多孔碳材料富含缺陷结构，可形成更多活性位点；可增加电极的活性面积，加快电子在电极表面的传递速率，本发明的检测方法操作简便、成本低廉，检测准确率高。