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一种基于微波辐射的不同海况下水蒸气校正精度分析方法

摘要

本发明一种基于微波辐射的不同海况下水蒸气校正精度分析方法,首先由水蒸气校正模型推导得出影响水蒸气校正精度确定的因素有:海况、本频率的亮温测量值、其他频率的亮温值以及亮温测量精度。然后由亮温确定理论模型对亮温测量值进行数值模拟,并遍历亮温测量值范围计算给出误差传播系数。最后计算不同海况下水蒸气校正精度。比现有技术方法中利用试验数据得出的水蒸气校正精度分析方法,本方法考虑问题更全面更精细,得出了不同海况下的水蒸气校正精度,为实现不同海况下卫星测高精度的精细化确定提供解决方法。

著录项

  • 公开/公告号CN114152921A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 航天东方红卫星有限公司;

    申请/专利号CN202111229363.9

  • 申请日2021-10-21

  • 分类号G01S7/40(20060101);G01S13/88(20060101);G06F17/18(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人杨春颖

  • 地址 100094 北京市海淀区北京5616信箱

  • 入库时间 2023-06-19 14:26:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-08

    公开

    发明专利申请公布

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