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一种强流脉冲电子束束流密度分布的测量方法及测量系统

摘要

本发明提供一种强流脉冲电子束束流密度分布的测量方法及测量系统,解决现有束流测量方法无法实现强流脉冲电子束完整剖面的束流密度测量问题。该方法包括:步骤一、制作切伦科夫辐射转换靶;步骤二、搭建测量系统;步骤三、采集光斑图像;步骤四、通过光斑图像的灰度值分布得到切伦科夫辐射的相对强度分布;步骤五、获取束流密度分布。本发明方法给出了切伦科夫辐射转靶的设计过程,从而为实现束流密度分布测量提供基础。同时,该方法给出了束斑图像的处理方法,通过该方法将束斑图像的灰度值分布转换成束流密度分布,从而实现了强流脉冲电子束完整剖面上的束流密度分布测量。

著录项

  • 公开/公告号CN114047540A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北核技术研究所;

    申请/专利号CN202111143404.2

  • 申请日2021-09-28

  • 分类号G01T1/29(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人郑丽红

  • 地址 710024 陕西省西安市灞桥区平峪路28号

  • 入库时间 2023-06-19 14:12:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-15

    公开

    发明专利申请公布

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