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一种大面阵CMOS图像传感器的非均匀性校正方法

摘要

本发明涉及一种大面阵CMOS图像传感器的非均匀性校正方法,有效解决了CMOS图像传感器的非均匀性问题,同时减少了参数存储,易于硬件系统的实现,保证了实时性要求。首先在积分球均匀光照下,对CMOS图像传感器进行原始图像采集,并对采集到的图像进行非均匀度计算,得到非均匀度最大值对应的图像,然后根据CMOS图像传感器的结构特点,将大面阵CMOS图像的列进行分组处理,利用分组进行参数求取,最终建立用于对CMOS图像传感器进行非均匀性校正的校正模型。本发明引入了最小二乘法,增加了校正精度,同时所得参数远远小于传统定标法的参数量,节约了硬件资源,降低了系统功耗,而且算法结构简单,计算量小,易于硬件实现。

著录项

  • 公开/公告号CN112291446A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011135899.X

  • 发明设计人 张贵祥;王士伟;徐伟;陶淑苹;

    申请日2020-10-22

  • 分类号H04N5/217(20110101);H04N5/365(20110101);H04N5/202(20060101);H04N5/374(20110101);

  • 代理机构22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司;

  • 代理人张伟

  • 地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

  • 入库时间 2023-06-19 09:43:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    授权

    发明专利权授予

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