基于PXI总线的边界扫描数字电路测试系统及其测试方法

摘要

本发明公开一种基于PXI总线的边界扫描数字电路测试系统及其测试方法。测试系统包括PXI背板、主控制器、JTAG控制器、1～N接口扩展模块、1～M功能扩展模块、适配板。PXI背板与主控制器、JTAG控制器、接口扩展模块、功能扩展模块均连接，适配板与主控制器、JTAG控制器、接口扩展模块、功能扩展模块均连接；主控制器通过USB接口与所述计算机的键盘、鼠标相连，还通过DVI与所述计算机的显示器相连。本发明的架构先进、可扩展性强，解决了现有测试设备针对性强，边界扫描测试与功能测试不兼容，无法实现系统测试难题，可作为通用开发平台使用。本发明还公开一种基于PXI总线的边界扫描数字电路测试系统的测试方法。