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用于产出构件的分析的具有设计缺陷的工程构件的制造

摘要

本发明涉及用于产出构件的分析的具有设计缺陷的工程构件的制造。公开了具有设计缺陷的工程构件(60,100)和具有设计缺陷的工程构件(60,100)用来评估产出构件的使用。制造具有已知缺陷的测试构件(70,300)。该已知缺陷是被故意地包括在测试构件(70,300)中的瑕疵。然后分析测试构件,以获得缺陷的测试轮廓(40)。另外,分析待测试的工程构件(60,100),以获得产出轮廓(40)。将该产出轮廓(40)与测试轮廓(40)比较,以确定工程构件(60,100)是否具有与已知缺陷对应的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN102809497A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN201210180339.5

  • 发明设计人 C.W.罗斯;J.B.小迪顿;

    申请日2012-06-04

  • 分类号G01N1/28;G01N33/00;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人肖日松

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2023-12-18 07:31:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-30

    授权

    授权

  • 2014-05-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20120604

    实质审查的生效

  • 2012-12-05

    公开

    公开

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