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荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置

摘要

本发明公开了一种荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置。一种荧光光谱校正方法,包括:对从标记有多个荧光染料的微粒获取的荧光光谱与参考光谱进行比较,从而将荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱,并且将先前测得的光谱数据用作为参考光谱。

著录项

  • 公开/公告号CN102539397A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 索尼公司;

    申请/专利号CN201110353124.4

  • 申请日2011-11-09

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚;吴孟秋

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-18 05:51:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-06

    授权

    授权

  • 2013-11-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20111109

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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