一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法，本发明之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。本发明针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置及其测试方法，特别涉及一种测试快速响应电子器件响应速度的装置及其测试方法。

背景技术

近几年随着半导体等电子器件的飞速发展，各种电子器件的性能和反应速度得到了大幅提高，相应的，随之的器件性能测试设备也在日新月异的发展。目前，各种快速响应电子器件，如高性能光电耦合器件的响应速度已经达到毫微妙级，而测试设备的测试精度远远达不到需求，所作的测试工作仅仅是粗略测试得到的结果，或采用昂贵的设备进行测试花费大量的资金，成本太高。

另外，近几年新出现的有机电致发光显示器(OLED)，具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、颜色丰富等一系列的优点，与液晶显示器相比，OLED不需要背光源，视角大，功率低，尤其其响应速度可达液晶显示器的1000倍，制造成本却低于同等分辨率的液晶显示器，因此，有机电致发光显示器具有广阔的应用前景。

而目前测试OLED屏的响应速度基本上是使用光电感应元件，置光电感应元件于OLED屏的发光面，光电感应元件后接放大器及整形电路，后接示波器。通过观察示波器上的波形的上升沿的时差，即可估算出OLED屏的响应时间。

老式的测试存在如下的缺陷；

1、因OLED屏的响应时间很短，要观察到波形需要高速示波器，仪器费用高；

2、如此快速的波形在示波器上一闪即逝，无法仔细观察研究，影响测量精度；

3、光电感应元件响应速度、放大及整形电路的时间延迟无法判明，这些因素将淹没或极大的影响OLED屏响应速度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够准确测量快速响应电子器件的响应速度，成本较低的响应速度测试装置。

本发明的另一目的在于提供一种采用上述测试装置测试电子器件响应速度的方法。

本发明的目的是通过以下技术方案予以实现的：本发明之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。

所述计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号可为同一触发信号。

所述计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号可为同一信号。

所述响应模组可为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组。

所述响应模组还可包括放大整形及开关触发电路。

所述被测电子器件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

所述响应模组还包括光电感应元件或声电感应元件。

所述各响应模组之间可以采用光隔绝或声隔绝。

所述光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

本发明的另一目的是通过以下技术方案予以实现的：本发明之快速响应电子器件响应速度的测试方法包括如下步骤：

(1)采用所述测试装置测量N(N≥2)组响应模组的总响应时间T；

(2)利用式①或式②、式③计算每一被测电子器件的响应时间T_i；

T＝(T_i+T_K)×N       ①

T＝(T_i+T_K+T_G)×N    ②

T＝T_i×N            ③

式中，T_K为放大整形及开关触发电路响应时间，T_G为光电感应元件或声电感应元件响应时间，其中T_G为已知。

所述步骤(2)还包括测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

所述测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K为将计时器的触发开、触发关分别与放大整形及开关触发电路的输入端、输出端电连接，测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

本发明针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。

附图说明

图1为本发明电子器件响应速度测试装置结构示意图；

图2为本发明实施例1有机电致发光器件响应速度测试装置结构示意图；

图3为本发明实施例2三极管响应速度测试装置结构示意图；

图4为本发明实施例1测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

具体实施方式

以下结合附图及实施例对本发明做进一步说明。

参照图1。本发明之快速响应电子器件响应速度的测试装置包括电源控制电路1，至少两组被测电子器件5的响应模组2，计时器3；电源控制电路1与响应模组2电源端电连接，各响应模组2串联连接，计时器3的触发开信号与第一组响应模组2的触发信号同步，计时器3的触发关信号与最后一组响应模组2的输出信号同步。当被测电子器件5的输出信号较弱或不规整时，需将其输出信号进行放大整形，即如图1，各组响应模组2增加放大整形及开关触发电路4，用以将本组输出信号输出到下一组响应模组2。由于该放大整形及开关触发电路4的响应时间可测，对被测电子器件5的响应速度测试没有什么影响，只需在总响应时间里减去这部分响应时间即可。

计时器3的触发开信号与第一组响应模组2的触发信号可为同一触发信号，因此，被测电子器件5与计时器3的触发开信号均为同一触发电路提供。计时器3的触发关信号与最后一组响应模组2的输出信号可为同一信号，即将最后一组响应模组2的输出直接接为计时器3的触发关信号。

响应模组2可为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组。例如可以对响应速度较快的有机电致发光显示器件(OLED)、三极管进行其响应速度测试。如果，对光电器件或声电器件的响应速度进行测试，响应模组2还包括光电感应元件或声电感应元件，如光电传感器6或声电传感器，同时，各响应模组2之间需要采用光隔绝或声隔绝，以杜绝各组之间产生干扰，导致测试误差增大。

对于破测电子器件5的输出信号较弱或不规整的情况，被测电子器件5与放大整形及开关触发电路4输入端电连接，放大整形及开关触发电路4输出端与下一组被测电子器件5触发端或计时器3触发关断端电连接。对于被测电子器件5为光电器件或声电器件，同时，输出信号较弱或不规整的情况，其光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路4输入端电连接，放大整形及开关触发电路4输出端与下一组被测电子器件5触发端或计时器3触发关断端电连接。

实施例1

参照图2。本实施例之被测电子器件为有机电致发光显示器件(OLED)5-1，其为光电器件，测试需要将其响应速度转换为电信号，增加光电传感器6，同时，由于光电传感器6输出信号较弱，需要将其输出信号端与放大整形及开关触发电路4连接，由该电路输出端触发下一组OLED5-1的响应。本实施例采用将20组OLED5-1响应模组串联进行整体响应时间的测试。采用如图2的测试装置。步骤如下：

(1)采用所述测试装置测量20组响应模组的总响应时间T。首先，由电源控制电路——触发电路1同时给第一组OLED响应模组2及计时器3的触发开提供同一触发信号，计时器3开始计时，第一组OLED响应模组2中的OLED屏体5-1发光，由光电传感器3将感应到的光信号转换为电信号，传输到放大整形及开关触发电路1，经过对信号的放大及整形，该电路输出一触发信号到下一组OLED响应模组2的OLED屏体5-1，……，如此，直到最后一组响应模组2的放大整形及开关触发电路4将触发信号传给计时器3，计时器3关闭，记录该时间T。

(2)测试放大整形及开关触发电路4响应时间T_K。如图4，此步骤仅将触发电路4、计时器3、20组放大整形及开关触发电路4串联进电路，如步骤(1)进行操作，直到计时器3关闭，记录该时间T_K。

(3)利用式②计算每一被测OLED屏体5-1的响应时间T_i；

T＝(T_i+T_K+T_G)×N    ②

其中，本次测试采用光电传感器6型号为HS0038A2，根据生产厂家提供出厂数据，其响应速度为1ns，即式②中T_G为1；N＝20。将上述数据进行计算，得出每一被测OLED屏体5-1的响应时间T_i为T/20-T_K-1(根据以上测试步骤已测出T、T_K值)。

实施例2

参照图3。本实施例之被测电子器件为三极管5-2，测试无需传感器，另外，由于三极管射极输出信号较强也较稳定，不需要加设放大整形及开关触发电路4连接，由三极管5-2射极e直接与下一组被测三极管5-2基极b连接，最后一组三极管5-2射极e信号触发计时器3的触发关断。本实施例采用将20组三极管响应模组2串联进行整体响应时间的测试。采用如图3的测试装置。

步骤如下：

(1)采用所述测试装置测量20组三极管响应模组2的总响应时间T。首先，将三极管5-2设置成饱和状态，由触发电路同时给第一组三极管响应模组2的基极b及计时器3的触发开提供同一触发信号，计时器3开始计时，第一组三极管5-2中电流由基极b到射极e，再由该组三极管5-2射极e流到下一组三极管基极b，……，如此，直到最后一组三极管5-2射极e将触发信号传给计时器3，计时器3关闭，记录该时间T。

(2)利用式③计算每一被测三极管5-2的响应时间T_i；

T＝T_i×N    ③

将上述数据进行计算，得出每一被测三极管5-2的响应时间T_i为T/N。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术人士，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此，本发明的保护范围当以申请的专利范围所界定为准。