公开/公告号CN103744012A
专利类型发明专利
公开/公告日2014-04-23
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN201410010405.3
发明设计人 钱亮;
申请日2014-01-09
分类号
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郑玮
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2024-02-19 23:06:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-12-07
授权
授权
2014-05-21
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20140109
实质审查的生效
2014-04-23
公开
公开
机译: 能够确定存储单元正常性的半导体存储器件的并行测试电路和并行测试方法
机译: 多语言并行测试方法,控制站和多际并行测试装置
机译: 多语言并行测试方法,控制站和多主流并行测试装置