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基于Credence KalosI存储器测试平台的并行测试装置及测试方法

摘要

本发明提供一种基于Credence KalosI存储器测试平台的并行测试装置及测试方法,装置包括:384个芯片,平均分成64子组芯片,每一芯片具有电源接口、地接口、时钟接口和IO接口各一个;内置于每一芯片中的一内建自测试模块中均具有多种自测试图形,且每一芯片的各接口均与内置的内建自测试模块相连;一KalosI存储器测试平台具有16块测试主板,每一测试主板具有48个测试通道和4个电源通道;每一电源通道分别与一子组芯片中的每一电源接口相连,每一测试通道分别依次与一芯片的时钟接口或IO接口相连,每一芯片中的地接口均与地相连,以使KalosI存储器测试平台可以实现384个芯片的并行测试。

著录项

  • 公开/公告号CN103744012A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201410010405.3

  • 发明设计人 钱亮;

    申请日2014-01-09

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑玮

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2024-02-19 23:06:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-07

    授权

    授权

  • 2014-05-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20140109

    实质审查的生效

  • 2014-04-23

    公开

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