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一种栅控双极-场效应复合碳化硅垂直双扩散金属氧化物半导体晶体管

摘要

本发明公开一种栅控双极‑场效应复合碳化硅垂直双扩散金属氧化物半导体晶体管,该器件通过采用基区与栅极相连的电极连接方式,代替传统的碳化硅VDMOS中基区与源极短接的电极连接方式。该器件工作在关态时源区、基区和漂移区之间寄生的双极型晶体管不工作,防止二次击穿,器件的击穿特性与传统器件击穿特性相同;该器件工作在开态时,使得器件寄生的双极型晶体管开启,提供了一个新的导电通道,与此同时,器件的沟道同样能正常开启进行导电。因此,本发明在保证器件具有相同击穿电压的同时,大幅度提高器件的导通电流,极大改善碳化硅晶体管的导通性能。

著录项

  • 公开/公告号CN110190114A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201910471454.X

  • 发明设计人 段宝兴;董自明;杨银堂;

    申请日2019-05-31

  • 分类号H01L29/06(20060101);H01L29/41(20060101);H01L29/78(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人胡乐

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2024-02-19 14:07:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/06 申请日:20190531

    实质审查的生效

  • 2019-08-30

    公开

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