首页> 中国专利> 波形显示装置及历史波形统计方法

波形显示装置及历史波形统计方法

摘要

本发明适用于数据测量与处理技术领域,提供了波形显示装置及历史波形统计方法,包括:第一处理单元和第二处理单元,第一处理单元包括参数测量模块,第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块。参数测量模块,用于测量波形帧数据的波形参数得到参数测量结果;历史测量统计模块用于从参数测量模块获取并统计位于历史测量范围内的多个波形帧数据的参数测量结果生成统计列表;波形显示模块用于显示统计列表,并根据查看指令调取并显示与查看指令对应的待查看的波形帧数据的波形。本发明的技术方案结合两个处理单元,能够加快运算处理速度,同时方便查看历史波形参数测量结果,也便于快速查找出异常数据并查看异常波形。

著录项

  • 公开/公告号CN109765411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州致远电子有限公司;

    申请/专利号CN201811487534.6

  • 发明设计人 周立功;杨炯;

    申请日2018-12-06

  • 分类号G01R13/02(20060101);

  • 代理机构44414 深圳中一联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人张全文

  • 地址 510000 广东省广州市天河区天河软件园高普路1023号517室

  • 入库时间 2024-02-19 09:48:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R13/02 申请日:20181206

    实质审查的生效

  • 2019-05-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号