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【2h】

Sequential Test Generators: Past, Present and Future

机译：顺序测试发生器：过去，现在和未来

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Yong Chang Kim; Kewal K. Saluja;
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年度 1998
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1. Sequential test generators: past, present and future [J] . Yong Chang Kim, Kewal K. Saluja Integration . 1998,第1a2期

机译：顺序测试生成器：过去，现在和将来
2. ProperTEST: a portable parallel test generator for sequential circuits [J] . Ramkumar B., Banerjee P. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1997,第5期

机译：ProperTEST：用于顺序电路的便携式并行测试生成器
3. A novel automatic test pattern generator for asynchronous sequential digital circuits [J] . Roland Dobai, Elena Gramatov Microelectronics journal . 2011,第3期

机译：一种用于异步顺序数字电路的新型自动测试码型发生器
4. PROPTEST: a property based test pattern generator for sequential circuits using test compaction [C] . Ruifeng Guo, Reddy, S.M. . 1999

机译：PROPTEST：基于属性的测试模式生成器，用于使用测试压缩的顺序电路
5. Automatic test pattern generator for full scan sequential circuits using limited scan operations. [D] . Pagalone, Vinod. 2006

机译：自动测试码型发生器，用于使用有限的扫描操作进行全扫描顺序电路。
6. Synthesizing genetic sequential logic circuit with clock pulse generator [O] . Chia-Hua Chuang, Chun-Liang Lin 2014

机译：利用时钟脉冲发生器合成遗传时序逻辑电路
7. PROPTEST: A Property Based Test Pattern Generator for Sequential Circuits using Test Compaction [O] . Ruifeng Guo, Sudhakar M. Reddy, Irith Pomeranz 1999

机译：pROpTEsT：基于属性的测试压缩序列电路测试模式生成器

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