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酸化物半導体薄膜トランジスタの信頼性劣化メカニズムと高信頼性ディスプレイへの応用に関する研究

机译:氧化物半导体薄膜晶体管可靠性退化机理的研究及其在高可靠性显示器中的应用

著录项

  • 作者

    MAI Phi Hung;

  • 作者单位
  • 年度 2015
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  • 正文语种 en
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