机译:4H-SiC外延层中的三重Shockley型堆垛层错
机译:4H-SIC脱落器中震撼堆积故障与基底脱位结构的形状相关性
机译:在4H-SIC脱落器中识别Shockley型堆积堆垛机的结构和来源
机译:高掺杂4H-SiC外延层中Shockley堆垛层错的扩展
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:通过室温μ-光致发光和μ-拉曼分析表征3C-SiC外延层截面中的4H和6H类堆积缺陷
机译:紫外光致发光成像光谱技术在厚,轻度n型掺杂,4°-off 4H-SiC外延层上的堆垛层错识别中的应用