机译:第一性原理研究4H-SiC / SiO2界面上的层间状态以及氧相关缺陷的影响
机译:4H-SiC表面氧相关缺陷的第一性原理研究:表面非晶结构的影响
机译:Si / SiO2界面电子结构的第一性原理研究—界面缺陷对局部电荷密度的影响
机译:结合密度泛函和器件仿真对4H-SiC(0001)/ SiO2界面缺陷进行识别和量化
机译:芯片级互连中电介质中导电行为的研究:Al / SiO2互连中缺陷的检测
机译:半相干界面点缺陷的第一性原理研究
机译:4H-siC / siO2界面缺陷的微观结构和电学活性:氧化多孔siC的EpR研究