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机译:用于金属膜厚度测量的线X射线反射率技术的研制
D. Windover;
机译:用X射线反射率,ESCA和光学椭偏法测量硅和非晶氢化碳上全氟聚醚聚合物薄膜的厚度
机译:使用绝缘体上硅薄膜的X射线衍射厚度测量技术的严格比较
机译:钽薄膜厚度的固定角,能量色散X射线反射率测量
机译:开发使用X射线反射率和衍射的分析技术来研究薄膜系统。
机译:快速加热过程中金属多层互扩散的X射线反射率测量
机译:基于涡流传感和距离跟踪技术的金属薄膜非接触式在线厚度测量系统
机译:用X射线反射率测量薄膜厚度的方法评价
机译:反射率测量装置,反射率测量方法,膜厚测量装置和膜厚测量方法
机译:使用能量D的X射线荧光光谱法测量厚的金属膜的厚度-在X射线的强度和厚度之间没有更多的相关性
机译:利用白x射线反射率快速测量薄膜纳米尺度厚度的方法及其系统
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