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机译:通过扫描微波阻抗显微镜解析Cdznte散装晶体中的电子不均匀性
Yadong Xu; Yaxu Gu; Ningbo Jia; Siyuan Yu; Xu Han; Yanfeng Chen; Wanqi Jie;
机译:扫描扩展电阻显微镜研究CdZnTe晶体的纳米级电子性能
机译:扫描力显微镜对LiNbO_3块状晶体中铁电畴结构的深度分辨分析
机译:微波阻抗显微镜显示In2Se3纳米带中的纳米级电子不均一性
机译:使用扫描抗扫描性显微镜研究Cdznte晶体缺陷
机译:低温扫描隧穿显微镜和扫描扫描渗透扫描光谱研究掺杂Nb(100)晶体
机译:通过扫描微波阻抗显微镜和动态光谱法测定3D架构的集成销二极管
机译:In2se3纳米带的纳米级电子不均匀性 微波阻抗显微镜
机译:扫描阻抗显微镜(SIM)映射介电膜中的局部阻抗
机译:至少两个光谱范围的高分辨率扫描显微镜
机译:高分辨率扫描显微镜,可分辨至少两个光谱范围
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