机译:透射电子显微镜测定纳米晶α-锆薄膜的五个参数晶界性分布
机译:透射电镜取向图立体分析的纳米晶铜薄膜晶界特征分布
机译:纳米晶金薄膜表面能驱动晶粒生长过程中的晶界特征分布和织构演变
机译:纳米晶铜薄膜中孪晶长度分数的晶粒尺寸依赖性,基于透射电子显微镜的取向图
机译:金薄膜中Σ= 3晶界之间位错发射结的原位透射电镜研究
机译:使用二次离子质谱法和分析电子显微镜确定小角度和大角度的铁硫合金薄膜双晶中硫的分布(001);扭转界限。
机译:透射电子显微镜观察Al晶粒尺寸晶界沟槽与Al / AlOx / Al隧道结氧化物势垒厚度局部变化的相关性
机译:纳米晶铜薄膜中孪晶长度分数的晶粒尺寸依赖性,基于透射电子显微镜的取向图