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机译:扫翼层流控制离散粗糙度技术的实验
William S. Saric; David E. West; Matthew W. Tufts; Helen L. Reed;
机译:离散后掠粗糙元素技术在掠流层流控制中的实验
机译:高雷诺数时离散粗糙度元素增强的后掠翼自然层流
机译:后掠边界层对微米级离散粗糙度元素的接受度
机译:用于层流控制的离散粗糙度元素技术的飞行试验实验
机译:使用微米级离散粗糙度元件在30度后掠翼上进行机上接受性实验。
机译:两个离散的顺式元件控制拟南芥中FILAMENTOUS FLOWER基因的背面侧特异性表达
机译:使用微米级离散粗糙度元件在30度后掠翼上进行机上接受实验
机译:借助模型预测控制来控制半导体技术中离散元素的产生的装置和方法
机译:层流精度-用于热质量流量的流量元件-传感器和流量控制设备
机译:精密层流元件,用于热质量流量传感器和流量控制器
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