Ferroelectric Thin-Film Stacks; Varied Total Ionizing Dose;
机译:累积总电离剂量(TID)和瞬态剂量率(TDR)对平面和垂直铁电隧道场效应 - 晶体管(TFET)的影响
机译:带有氧化物电极的压电薄膜悬臂的总电离剂量效应
机译:压电MEMS继电器中的总电离剂量效应
机译:施用特异性偏置条件和剂量率依赖性对总电离剂量(TID)反应的研究
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:γ射线总电离剂量(TID)对Ag / AlO转换行为的影响X/ Pt RRAM设备
机译:γ射线辐射的总电离剂量(TID)对Ag / AlO / Pt RRAM器件的开关行为的影响