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【24h】

Use of a Novel Infrared Wavelength-Tunable Mueller-Matrix Polarimeteric Scatterometer to Measure Nanostructured Optical Materials (Preprint).

机译:使用新型红外波长可调穆勒 - 矩阵偏振光散射仪测量纳米结构光学材料(预印本)。

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