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机译:Czochralski单晶棒生长的浮区硅片中长时间高温退火造成的沉淀
α-Si _3N_4; Crystalline defect; Floating zone silicon wafer; Precipitate; X-ray topography;
机译:Czochralski单晶棒生长的浮区硅片中长时间高温退火造成的沉淀
机译:惰性或氧化环境下斜线退火对掺氮切克劳斯基硅片中氧沉淀剥蚀区形成的影响
机译:氮气氛中长时间的高温退火在硅片中形成的沉淀
机译:通过在氮气氛中长时间的高温退火在硅晶片中引起的沉淀物
机译:CZOCHRALSKI硅晶圆中的裸露区域。
机译:Si晶片上生长的垂直导电单晶SiC基Bragg反射镜
机译:氧或氖原子注入并退火后,通过直拉法或浮区法生长的硅晶体的结构完善变化
机译:溶剂激光加热浮区生长4H碳化硅薄膜的表征。