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【24h】

Vakuumdichte MEMS-Gehauml;use

机译:真空密封MEMS外壳

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摘要

Resonant betriebene Inertialsensoren in Mikrosystemtechnik sind durch die Vakuumdichtigkeit des Gehauml;uses in ihrer Lebensdauer begrenzt. Um zuverlauml;ssige Aussagen über die effektive Luftleckrate der Mikrogehauml;use treffen zu kouml;nnen, haben Wissenschaftler des Fraunhofer-Instituts für Siliziumtechnologie ISIT einen einzigartigen Neon Ultra-Fine-Leck-test entwickelt. Mit dieser zerstouml;rungsfreien Prüfung lassen sich die potenziellen Ausfallkandidaten bereits auf Waferebene - also noch vor der weiteren Verarbeitung und Auslieferung der Sensoren an die Kunden - ausselektieren.
机译:微系统技术中的谐振惯性传感器由于外壳的真空密封性而限制了其使用寿命。为了能够对微封装的有效漏气率做出可靠的陈述,弗劳恩霍夫硅技术研究所ISIT的科学家们开发了一种独特的氖气超细泄漏测试。通过这种无损检测,可以在晶圆层面选择潜在的故障候选者,即在传感器进一步加工并交付给客户之前。

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