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机译:通过概率框架评估小裂纹增长的疲劳指示器参数的可靠性
Purdue Univ Sch Aeronaut &
Astronaut 701 W Stadium Ave W Lafayette IN 47907 USA;
Univ Paris Saclay CNRS ENS Paris Saclay LMT 61 Ave President Wilson F-94235 Cachan France;
PSL Res Univ MINES ParisTech MAT Ctr Mat CNRS UMR 7633 BP 87 F-91003 Evry France;
Los Alamos Natl Lab Mat Sci &
Technol Div Los Alamos NM 87545 USA;
European Synchrotron Radiat Facil BP 220 F-38043 Grenoble France;
Purdue Univ Sch Aeronaut &
Astronaut 701 W Stadium Ave W Lafayette IN 47907 USA;
polycrystalline microstructure; high energy x-ray diffraction microscopy; small crack growth; fatigue indicator parameter; crystal plasticity; machine learning; Bayesian networks;
机译:混凝土疲劳裂纹扩展建模的概率多参数框架
机译:概率疲劳裂纹扩展速率模型参数估计的新方法
机译:SHMS与应变数据相结合的斜拉桥箱梁疲劳裂纹扩展模型
机译:使用BEM和可靠性算法的概率疲劳裂纹增长
机译:疲劳裂纹扩展和检测的概率方面。
机译:应变比对马氏体钢疲劳裂纹萌生影响的微力学建模-不同疲劳指标参数的比较
机译:直流电势法疲劳裂纹增长率的可靠性工程方法。 III。直流电势法,高强度钢HT60疲劳裂纹生长速率的可靠性工程方法。
机译:疲劳裂纹扩展及影响疲劳寿命的应力历史参数研究。